เครื่องวัดความหนาชั้นเคลือบฟิล์มบางบนวัสดุ ( Thin Film Metrology System )

      

   

 


 

@ ใช้วัดค่าความหนาฟิล์มบางชนิดโปร่งแสง ( Optical Transparent Coating ) ที่เคลือบอยู่บน เวเฟอร์-โลหะ-แก้ว หรืออื่นๆ

@ ใช้เทคนิคการวัดแบบ Fiber Optic Spectrometer ร่วมกับซอฟแวร์ Thin Film - TFProbe , วัดความหนาได้สูงสุด 5 ชั้น

@ วัดค่าความหนาได้ตั้งแต่ 10 นาโนเมตร จนถึง 50 ไมโครเมตร ด้วยความละเอียดถึง 1 นาโนเมตร

@ เหมาะสำหรับอุตสาหกรรมเคลือบฟิล์มบาง เช่น เซมิคอนดักเตอร์ , โซลาเซลล์ , จอภาพแสดงผล , เลนส์ หรืออื่นๆ

@ มีรุ่นที่ใช้งานสำหรับวัดค่าในห้องสูญญากาศ ( Vacuum Chamber ) เพื่อควบคุณภาพของการเคลือบในขณะผลิต

@ วัดค่าได้ในแบบต่อเนื่อง ( Real-time On-line ) จึงสามารถใช้ในการ Monitoring ค่าความหนาได้

@ ใช้วัดเพื่อการควบคุมคุณภาพได้ทั้งในห้องปฏิบัติการ ( Laboratory ) หรือในกระบวนการผลิต ( Process Analytical )

@ เคลื่อนย้ายได้ ( Portable ) , น้ำหนักเบา , สามารถออกแบบให้วัดพร้อมกันได้หลายๆจุดในกระบวนการผลิต


การประยุกต์ใช้งาน : ใช้วัดค่าความหนาชั้นเคลือบฟิล์มบางบนชิ้นส่วนโลหะ , กระจก , เลนส์ , อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ , ผิวเซ็นเซอร์ , จอภาพ LCD/LED/Plasma , ฟิลเตอร์กรองแสง , แผ่นเวเฟอร์ , แว่นตา เป็นต้น


สาขาที่ใช้งาน :  ฟิสิกส์ , อุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์ , กระจก , เลนส์ , ชิ้นส่วนยานยนต์ , ชิ้นส่วนพลาสติก เป็นต้น


Application :  Download ได้จากไฟล์ด้านล่างครับ