Thin Film Metrology System ( เครื่องวัดความหนาชั้นเคลือบฟิล์มบางบนวัสดุ )

Thin Film Metrology System

( เครื่องวัดความหนาชั้นเคลือบฟิล์มบางบนวัสดุ )

vลักษณะทั่วไป

Ø  ใช้วัดค่าความหนาชั้นฟิล์มบาง ( Optical Transparent Film ) ที่เคลือบบน Wafer-โลหะ-แก้ว เป็นต้น

Ø  วัดค่าความหนาได้ตั้งแต่ 10 ถึง 50 ไมโครเมตร ด้วยความละเอียด 1 นาโนเมตร

Ø   วัดค่าได้ในแบบต่อเนื่อง ( Real-time On-line ) จึงสามารถใช้ Monitor ค่าความหนาขณะเคลือบได้

Ø  มีรุ่นสำหรับใช้วัดใน Vacuum Chamber เพื่อควบคุณภาพของการเคลือบในขณะผลิต

v  ตัวอย่างการใช้งาน

Ø  ใช้วัดค่าความหนาชั้นเคลือบฟิล์มบางบนชิ้นส่วนโลหะ , กระจก , เลนส์ , อุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์ ,   ผิวเซ็นเซอร์ , จอภาพ LCD-LED-Plasma , ฟิลเตอร์กรองแสง , แผ่น Wafer , แว่นตา เป็นต้น

vสาขาที่ใช้งาน

Ø  ฟิสิกส์สารกึ่งตัวนำ ( Semiconductor ) , โซลาเซลล์ , จอภาพแสดงผล , กระจก , เลนส์ เป็นต้น



  • 2048.JPG
    AVa-Thinfilm ULS2048AVANTESAvaSpec-ULS2048สามารถใช้ในแอพพลิเคชั่นมากมายในช่วงUV / VISความเร็วในการตอบสนองที่ยอดเยี่ยมAvaSpec-ULS2048เป็นอีกหนึ่งทางเลือกที่ดีสำหรับสเปกโตรมิเตอร์§ 2...

  • 2048CL.jpg
    UV-VIS Thin Film Metrology System ULS2048CLAVANTES AVANTESได้นำเทคโนโลยีCMOS ( Complementary Metal Oxide Semiconductor )เข้ามาแทนที่เทคโนโลยีCCD ( Charge Coupled Device )รวมถึงก...

ดาวน์โหลดเอกสารเพิ่มเติม

Visitors: 28,793