X-Ray Diffractometer เป็นเครื่องมือทางวิทยาศาสตร์ที่ใช้ในการวิเคราะห์โครงสร้างของวัตถุหรือสารโดยใช้หลักการของการเบี่ยงรังสีเอ็กซ์ (X-Ray Diffraction) เพื่อให้ได้ข้อมูลเกี่ยวกับการเรียงตัวของอะตอมและโครงสร้างของวัตถุ X-Ray Diffractometer ทำงานโดยการใช้รังสีเอ็กซ์ที่ผ่านตัวอย่าง โดยเมื่อรังสีเอ็กซ์ผ่านตัวอย่างจะเกิดกระบวนการเบี่ยงรังสี (Diffraction) ซึ่งเป็นผลจากการสะท้อนรังสีเอ็กซ์เมื่อพบกับโครงสร้างของวัตถุ การเบี่ยงรังสีจะมีลักษณะแบบลวดลายเฉพาะที่เกี่ยวข้องกับโครงสร้างและการเรียงตัวของอะตอมในวัตถุ เครื่อง X-Ray Diffractometer มีส่วนประกอบหลักที่ประกอบด้วยแหล่งรังสีเอ็กซ์ (X-Ray Source) ที่สร้างรังสีเอ็กซ์ที่มีความเข้มของพลังงานสูง และเครื่องควบคุมและรับรู้การเบี่ยงรังสี (Detector) เพื่อวัดและบันทึกรูปแบบการเบี่ยงรังสีที่เกิดขึ้น โดยผลลัพธ์ที่ได้จากเครื่อง X-Ray Diffractometer จะเป็นรูปแบบของการเบี่ยงรังสี (Diffraction Pattern) ที่แสดงความสัมพันธ์ระหว่างโครงสร้างและความเรียงตัวของอะตอมในตัวอย่าง การใช้งาน X-Ray Diffractometer มักนำไปใช้ในงานวิจัยทางวิทยาศาสตร์และอุตสาหกรรม เช่น การวิเคราะห์โครงสร้างของวัตถุเป็นองค์ประกอบของวัสดุ การตรวจสอบคุณสมบัติวัสดุ เช่น การวัดความแข็งแรง การตรวจวัดแบบศูนย์กลางแกน การตรวจสอบความเป็นอนุภาค การตรวจวัดการเรียงตัวของโครงสร้างโมเลกุลในวิทยาศาสตร์ชีวภาพ การวิเคราะห์เครื่องมืออิเล็กทรอนิกส์ และการศึกษาวัสดุเพื่อการนำไปใช้ในอุตสาหกรรมต่างๆ